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光束質量分析儀基本的工作原理是通過對光束橫截面上的光強分布進行測量和分析。當光束照射到分析儀的探測器表面時，探測器上的每個像素點會接收到不同強度的光信號，并將這些光信號轉換為電信號。通過掃描整個探測器表面，就可以得到光束在二維平面上的光強分布圖像。這種光強分布圖像直觀地反映了光束...
殘余應力是指構件在制造過程中，將受到來自各種工藝等因素的作用與影響；當這些因素消失之后，若構件所受到的上述作用與影響不能隨之而消失，仍有部分作用與影響殘留在構件內，則這種殘留的作用與影響稱為殘留應力或殘余應力。150AT應力雙折射系統用于殘余應力檢測。該應力雙折射測顯系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業生產中檢測產品應力分布。產品軟件直觀顯示待測樣品應力情況，便于操作和日常監測。150AT應力雙折...
Gentec-EO小巧便攜且方便使用的激光功率計和能量計PRONTO系列所提供產品十分小巧，可隨身攜帶。對于經常四處奔波或常使用激光等設備的修理維修人員，此為一種切實可行的解決方案。這些產品堅硬牢固，可隨處處理并移動，無需擔心發生損壞。這種操作簡單的解決方案不需要任何知識，只需將激光束對準光圈，并在設備屏幕上直接讀取功率或能量測量。得益于我們的免費專屬軟件，您甚至可利用數據記錄功能，在您的計算機上分析數據。Gentec-EO方便的無線設備，可在移動設備或計算機上測量激光功率如...
光束質量分析儀是一款符合標準的測量設備。測量過程中，固定的透鏡和高速的自動光學導軌使得相機可以快速的采集到從近場到遠場多個位置的激光光斑，測量、傳輸以及激光功率衰減全部由軟件自動控制。在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數據分析與計算，從而得到M2值、發散角、束腰大小等參數。光束質量分析儀信噪比高，線性響應度好。界面軟件可TCP/IP控制。通過庫套件可方便地應用于各種場合。...
殘余應力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。有損測試方法就是應力釋放法，也可以稱為機械的方法；無損方法就是物理的方法。機械方法用得多的是鉆孔法（盲孔法），其次還有針對一定對象的環芯法。物理方法中用得多的是X射線衍射法，其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法、超聲法以及壓痕應變法。殘余應力的檢測國內外均已開展多年，其測定方法可分為機械測定法和物理測定法。機械測定法測定時須將局部分離或分割使應力釋放，這就要對工件造成一定損傷甚至破壞，典型的有切槽法和鉆孔法，這方面技術成熟，理論完...
激光功率計是用來測試連續激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。常用到激光能量計，用來探測重復脈沖激光的單發能量和單脈沖激光的能量。熱電堆型激光功率計通過熱電堆結構將光能轉換成熱量，再轉換為電信號輸出，通過校準來測量激光功率的大小。激光功率計一般由探頭和顯示設備組成，激光功率計探頭按照不同的原理和材料分為熱電堆型、光電二極管型、以及包含兩種傳感器的綜合探頭，激光能量計則有熱釋電傳感器和熱電堆傳感器探頭。激光功率計使用方法1.接上輸入電源線，將光探測器的輸出插到儀器...
應力雙折射測量系統(殘余應力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術解決方案。應力雙折射測量系統，非球面透鏡應力雙折射測量，應力橢偏儀，應力橢偏測量,殘余應力測量不規則非球面光學元件應力分布測量系統（應力雙折射測量系統）通過對光的調制解調可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數據同時也表示了應力的大小和方向。這套不規則非球面光學元件應力分布測量系統的傾斜，多角度入射掃描技術可以保證對非球面不規則的...
